Витрина товаров
Свяжитесь с нами
Адрес: № 1759, улица Миньси, зона развития науки и технологий Бэйху, город Чанчунь
Лямбда-микро-гиперспектральная система изображения
- Описание продукта
- Введение в параметры
- Меры предосторожности
-
Производительность продукта
Модель прибора
Lambda-VN
Lambda-VNS
Lambda-Nir
Спектральный диапазон
420–1000 нм
420–1000 нм
1150–1650 ±5 нм
Спектральное разрешение
10nm
10nm
20nm
Количество спектральных каналов
>100
>100
32/64
Стандартный объектив
Фокусное расстояние (мм)
25 (доступны другие фокусные расстояния*1)
25 (доступны другие фокусные расстояния*1)
35 (другие фокусные расстояния доступны *2)
Рабочее расстояние (мм)
От 150 до бесконечности
От 150 до бесконечности
От 300 до ∞
Поле зрения
19°
23°
15,6°
Зонд
2048×2048 CMOS
2048×2048 CMOS
640×512 InGaAs FPA
Количество пикселей (пространственное измерение × сканирующее измерение)
1600×1200 (1X)
800×600 (2X)1600×1200 (1X)
800×600 (2X)640×512
Размер пикселя
5,5 × 5,5 мкм
6,5 × 6,5 мкм
15×15 мкм
Цифровой выход
10bit
12bit
14bit
Частота кадров
28 мкс – 1 с
10 мкс – 10 с
10 мкс – 1 с
Встроенное компьютерное интерфейсное устройство
USB3.0 + HDMI
USB3.0 + HDMI
USB3.0 + HDMI
Крепление объектива
C-Mount
C-Mount
C-Mount
Системная мощность
Постоянный ток 16,8 В
Постоянный ток 16,8 В
Постоянный ток 16,8 В
Встроенный микропроцессор
Процессор i7, 16 ГБ ОЗУ, SSD 256 ГБ
Процессор i7, 16 ГБ ОЗУ, SSD 256 ГБ
Процессор i7, 16 ГБ ОЗУ, SSD 256 ГБ
Встроенная батарея
65Wh
65Wh
65Wh
Потребление энергии системой
45W
60W
60W
Примечание:
*¹: 16 мм, 35 мм, 50 мм; другие варианты доступны по запросу.
*²: 9 мм, 15 мм, 22 мм, 56 мм; другие размеры доступны по запросу.
Особенности камеры
Интеграция объектива Он может быть непосредственно интегрирован с оптическими объективами или микроскопами, имеющими стандартные интерфейсы C-крепления, что позволяет быстро получать спектральные изображения (картирование).
Автоматический сбор Поддерживает автоматическую экспозицию, автоматическое согласование скорости сканирования и автоматический сбор и хранение данных.
Калибровка в реальном времени и вычисление модели Включает более 25 индексных моделей для водных объектов, растительности и других характеристик, а также поддерживает калибровку данных в реальном времени и вычисление моделей.
Вспомогательный мониторинг Оснащён вспомогательной видоискателем с камерой для мониторинга зоны съёмки в режиме реального времени;
Встроенное питание Встроенная батарея, поддерживает автономную работу;
Функция коррекции данных Поддерживает коррекцию яркости, коррекцию отражательной способности, региональную коррекцию, калибровку объектива и калибровку однородности.
Совместимость объективов Объектив можно гибко заменять;
Совместимость программного обеспечения Формат данных полностью совместим с профессиональным аналитическим программным обеспечением, таким как Envi и SpecSight.
Спектральный поиск соответствия Поддерживает функцию поиска сопоставления спектров в реальном времени для целей;
Беспроводной пульт дистанционного управления Встроенный Wi-Fi поддерживает беспроводное дистанционное управление с помощью смартфонов на Android, iPad и iPhone.
Дистанционная передача Интерфейс Gigabit Ethernet, поддерживающий передачу изображения на большие расстояния и управление с удалённого пульта.
Примеры применения
Биомедицинская область:
Оно может применяться для идентификации опухолевых клеток, дифференциации геморрагических полипов, выявления лейкоплакии, скрининга лимфоцитарной лейкемии, различения цитоплазмы и ядра, а также подсчёта числа клеток и других задач.

Быстрое выявление геморрагических полипов и участков лейкоплакии на слизистой оболочке гортани на основе микроскопической гиперспектральной визуализации (красные участки)

Высокоспектральная микроскопическая идентификация локализации опухоли и распространения аномальных клеток под окуляром с увеличением 20x.


Быстрое разделение ядер, цитоплазмы и других клеточных компонентов на основе микроскопической гиперспектральной визуализации. Количество клеток было рассчитано на основе положений центроидов цитоплазмы (всего 402 клетки).
Обнаружение наночастиц с помощью рассеяния в темном поле
Микроскопия в темном поле — это специализированная микроскопическая техника, использующая освещение в темном поле для предотвращения попадания света, не связанного с исследуемым объектом, в объектив, что позволяет получить чёткие контуры объекта на тёмном фоне. С помощью этого метода можно визуализировать частицы размером от 4 до 200 нанометров с разрешением, превышающим разрешение обычной микроскопии в ярком поле до 50 раз. Микроскопы, оснащённые гиперспектральными системами изображения, позволяют дополнительно определять типы этих крошечных частиц.
На рисунке показана гиперспектральная визуализация VNIR лёгочной ткани мышей после однократной интраназальной инстилляции низкой (18 пг) и высокой (162 пг) доз нанооксида титана, используемая для выявления участков, где частицы задерживаются в этих тканях.

Тёмнопольное изображение ткани, подвергшейся воздействию нанооксида титана (верхнее изображение)
Тёмнопольная гиперспектральная визуализация тканей, подвергшихся воздействию нано-TiO₂, позволила выявить эти наночастицы, которые проявились в виде скоплений белых включений (среднее изображение).
В этих организациях наноразмерный диоксид титана выглядит как красные точки или агрегаты на гиперспектральных изображениях (см. рисунок ниже).
Тест светоизлучения OLED-дисплея
Микроскопическая гиперспектральная система визуализации, оснащённая окулярами с различным увеличением, способна получать люминесцентные изображения OLED-дисплеев с более высоким пространственным разрешением. Благодаря функции «интеграции изображения и спектра» в данных гиперспектральной визуализации она позволяет выявлять однородность и стабильность люминесценции OLED-дисплеев.

Проверьте свечение OLED-дисплея при увеличении 20X, 50X и 100X.
Материалы для чипов, обнаружение дефектов
Технология бесконтактного, неразрушающего, быстрого и точного измерения в микрообласти может работать при комнатной температуре и позволяет проводить онлайн-измерения в процессе производства. Она обеспечивает получение карты фотолюминесценции по всей поверхности пластины, предоставляя важную информацию о составных соотношениях подложек или эпитаксиальных слоев, распределении дефектов и однородности микроплощадей других материалов. Основываясь на технологии микроскопической гиперспектральной визуализации, можно с высокой разрешающей способностью выявлять изменения в составе материалов пластин, а также изменения концентрации люминесцентных центров внутри образцов.

Применения в кристаллах перовскита
По сравнению с традиционными методами обнаружения, такими как конфокальная микроскопия, микроскопическая гиперспектральная система изображения обладает следующими преимуществами при выявлении неоднородностей в перовскитных кристаллических материалах: она позволяет проводить однократную съемку всего поля зрения; в экспериментах по PL-изображению источник возбуждающего света, предоставляемый этой системой, обеспечивает равномерное распределение интенсивности по всему полю зрения; а также она способна осуществлять количественные измерения спектральной интенсивности.

Данные PL перовскита. На рисунках (а) и (б) представлены два отдельных монохроматических изображения PL, снятые соответственно при длине волны 625 нм и 750 нм.
Рисунок (в) показывает спектры в различных положениях на рисунке 1.
На рисунке (d) показана карта частотного сдвига изображения спектра PL для указанной области.
Приложения для дисплеев со светодиодными/органическими светодиодными источниками света
Микроскопическая гиперспектральная технология постепенно начинает применяться при испытаниях полупроводниковых материалов и устройств. В настоящее время микроскопическая гиперспектральная съемка в основном используется для изучения однородности люминесценции в полупроводниковых материалах, выявления и анализа дефектов в полупроводниковых материалах, а также для картирования пространственного распределения поверхностных температур на светодиодных чипах.

Микроскопическая гиперспектральная инверсия температуры для различных панелей со светодиодными источниками света
Области применения
1. Биомедицинская область
2. Обнаружение наночастиц методом рассеяния в темном поле
3. Испытание по излучению света OLED-дисплея
4. Материал чипа
5. Обнаружение дефектов
6. Применения в кристаллах перовскита
7. Приложения для дисплеев со светодиодными/органическими светодиодными источниками света
Загрузить связанные документы